APS-100超聲法粒度儀在ZnO納米顆粒和ZnO-EG納米流體方面的應用

金屬氧化物納米結構因其在太陽能電池、電致發(fā)光器件、電致變色窗口和化學傳感器等許多技術中的潛在應用而引起人們的廣泛關注。此外，聲音通過隨機介質(zhì)傳播也成為人們關注的課題，這些介質(zhì)包括膠體懸浮液、多孔材料、磁流變介質(zhì)和納米流體，其中納米流體由于其在不同領域的廣泛應用而引起了人們的極大興趣。

有研究者對ZnO納米顆粒和ZnO-EG、ZnO-water納米流體進行了研究。研究過程中分別采用了XRD、SEM、TEM對ZnO納米顆粒進行表征，采用APS-100對ZnO-EG納米流體進行了粒徑分布和超聲衰減測量。

圖1. a: ZnO納米顆粒粉末樣品在不同蒸發(fā)速率下的XRD譜圖； b:(a)凝聚的ZnO納米顆粒的SEM圖像,(b)ZnO納米顆粒TEM圖像；c:ZnO-EG納米流體粒度分布曲線；d:純EG和ZnO-EG納米流體的速率與溫度關系；e:純EG和ZnO-EG納米流體的速率與溫度關系。

在該研究中，目前對納米顆粒的結構和形態(tài)學研究表明，氧化鋅納米顆粒的結晶度取決于其合成過程中pH的蒸發(fā)速率?？刂萍{米顆粒大小、形狀和分布的因素是由蒸發(fā)速率、溶液濃度和超聲波時間控制的溶液pH。氧化鋅納米流體中超聲波速度的溫度變化主要依賴于低頻區(qū)分散粒子的粒子體積分數(shù)，且大于純基體（EG）中的速度。研究了目前納米流體樣品的速度與溫度之間存在非線性關系。在低頻區(qū)域，粘性損耗對總衰減是有效的，而在高頻區(qū)域，散射和粘性阻力損耗比較顯著。頻率、粒徑和濃度是超聲波衰減的控制參數(shù)。穩(wěn)定的氧化鋅納米流體的形成在本質(zhì)上是松弛的。因此，超聲波特性（速度和衰減）是表征納米流體的有效工具，因為它提供了有用的信息和特性。該研究結果和已知的納米晶氧化鋅的物理性質(zhì)為納米流體的進一步研究和表征提供了一個新的維度。

胤煌科技推出的Zeta APS原液/高濃度粒度及Zeta電位分析儀具有以下技術優(yōu)勢：

√一個樣品池中，實現(xiàn)粒度分布（PSD）及 Zeta 電位的檢測；

√ 可通過攪拌或者流動的形式直接測量樣品，無需稀釋；

√ 兼容水相 / 有機相，有 / 無顏色，酸 / 堿性（pH: 0-14）樣品類型；

√ 可測量多孔材料塊體的孔隙率和表面 Zeta 電位；

√ 可同時測量 pH 值、溫度、電導率、表面電荷密度、雙電層厚度和聲速等參數(shù)；

√ 在測量過程中，自帶樣品混合系統(tǒng)或者泵循環(huán)系統(tǒng)，不受顆粒沉降的影響；

√ 插入式 Zeta 電位傳感器允許在樣品池或獨立容器中進行測量；

√ 自動的電位滴定和容量滴定，用于簡單和最快的 IEP；

√ 堅固耐用，操作簡單，維護工作量少，檢測快速；

胤煌科技(YinHuang Technology)是一家專注于為醫(yī)藥、半導體及化工材料等行業(yè)提供檢測分析設備及技術服務的高科技公司，致力于為客戶提供全面、準確的檢測分析和解決方案。主營產(chǎn)品包括不溶性微粒分析儀，可見異物檢查分析儀，原液粒度及Zeta電位分析儀，CHDF高精度納米粒度儀，高分辨納米粒度儀，溶液顏色測定儀，澄清度測定儀等，公司自主研發(fā)的YH-MIP系列顯微計數(shù)法不溶性微粒儀、YH-FIPS系列流式動態(tài)圖像法粒度儀，YH-FIPS系列微流成像顆粒分析儀已經(jīng)在生物醫(yī)藥、半導體及材料化工領域得到廣泛應用.